Instrumentelle Strukturanalytik
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Ausstattung

Die Ausstattung der Arbeitsgruppe „Instrumentelle Strukturanalytik“ umfasst verschiedene Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie.

Transmissionselektronenmikroskop

TEM Tecnai G2 F20 (Fei) (2014)

Tecnai G2 F20 (Fei)

• 200kV, Feldemissionskathode
• EFTEM, EELS (GIF2002, Fa. Gatan)
• STEM
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)
• HAADF (Fa. Fischione)
• Kryo-Probenhalter
• Tomographie

Rasterelektronenmikroskop

REM Merlin August 2014

Merlin (Zeiss)

• 30kV, Feldemissionskathode
• Detektoren: SE, BSE, EsB, STEM
• EDX

Rasterelektronenmikroskop

REM Leo August 2014

LEO Gemini 1550 VP (Zeiss)

• 30kV, FEG
• Detektoren: SE, BSE
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)

Rasterkraftmikroskop

Rasterkraftmikroskop August 2014

MultiMode 8 (Bruker)

• Nanoscope Controller V
• Messmodi
- Tapping Mode®
- Contact Mode
- PeakForce Modes
- ScanAsystTM
- Conductive AFM
- Kelvin Probe AFM
- Tunneling AFM
• Zubehör
- Temperature Control: -35°C to 250°C
- Fluid cell
- Gas cell
- ScanAsystTM HR

Leica-Lichtmikroskop

Leica Lichtmikroskop August 2014

Leica DMLM

• Auflicht/Durchlicht
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x
• Phasenkontrast
• Heiz-/Kühltisch
• Temperaturcontroller TMS94 (Fa. Linkam)
-196°C bis 600°C




Raman-Mikroskop (dispersiv)

Raman-Mikroskop Bruker August 2014

Senterra (Bruker)

• Anregungswellenlänge: 785nm und 532nm
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x