Methoden
Analytische Methoden der Abteilung
| Methode | Geräteausstattung / Modell |
| Rasterelektronenmikroskopie, Abbildung und energiedispersive Röntegenanalytik (EDX) | Topographischer Kontrast: Inlensdetektor, Everhard Thornley Detektor; Elementenkontrast und Topografie: Rückstreuelektronendetektor; STEM-Zusatz. Nicht elektrisch leitfähige Proben: LV-Mode ab 100 eV und VP-Mode bis 100 Pa und 25 keV (VPSE- und BSE-Detektor). EDX ab Bor |
| Raster-Kraft Mikroskopie Tapping Mode, Contact mode, Interleave Mode, Force Volume Mode | NanoScope IIIa (Veeco) mit MMHC-35-250, NanoScope Va (Veeco) T = -35 - 250 °C |
| Optische Profilometrie | Microprof 200 mit chromatischem Sensor CWL 300 µm (FRT) |
| Digitalmikroskopie | Digitalmikroskop VHX-500 (Keyence) mit Zoom-Objektiven VH-Z500, VH-Z150 und VH-Z25, 3D-Meßsoftware |
| Oberflächen- und Grenzflächenspannung von Polymeren (Platten und Zylindern) | Tensiometer K12 und K14 (Krüss) |
| Kontaktwinkel- und Oberflächenspannungsmessungen Sessile Drop, Captive Bubble, Pendant Drop | Goniometer DAS 100 (Krüss) |
| Strömungspotentialmessung (Zeta-Potential) | MES Microslit Electrokinetic Setup (IPF Dresden); Mikrospaltzelle, Meßzellen für ebenflächige Proben, Pulver und Fasern |
| Impedanzspektroskopie und Dielektrische Spektroskopie | IM6 Impedance Spectrometer 10 µHz-8 MHz (Zahner); HP 4284A Precision LCR Meter 20 Hz - 1 MHz (Hewlett Packard); T = 25 -150°C. |
